SRM 2944 - 荧光光谱的相对强度校正标准：红色发射

产品介绍

NIST SRM2944 荧光光谱的相对强度校正（标准品）旨在用于评估和校准具有连续激发源的稳态荧光光谱仪的相对光谱响应度，并用于确定日常或仪器到仪器的强度变化单个或类似的荧光仪器， SRM 2944 的一个单元由一块比色杯形的实心玻璃组成。样品系列装置的序列号介于 Bi0XX 和 Bi0YY 之间。该 SRM 已通过相对校正发射光谱 E 的认证，以相对能量单位表示，发射波长 λEM = 530 nm 至 830 nm，波长间隔为 1 nm，固定激发波长 (λEX) 为 515.0 nm。由于峰值附近较大的信噪比水平，发射

推荐从 λEM = 590 nm 到 805 nm 的范围作为大多数仪器和应用的最佳选择。请注意，本标准的认证值在用于脉冲光源荧光光谱仪的光谱校正时成为参考值。

认证值：

NIST 认证值是 NIST 对其准确性有最高置信度的值，因为所有已知或可疑的偏差来源都已调查或考虑在内 [1]。每个发射波长的 E 和相应总不确定度在 95 % 置信水平 U95 下的认证值在表 1 和表 2. E 的计量溯源性是 NIST 光谱辐射度标度，以相对能量单位表示。波长的计量溯源性为米的 SI 单位。

NIST SRM2944 荧光光谱的相对强度校正（标准品）的定位应使激发光束垂直并居中在一个抛光面上，并从与激发光束成 90 度角的相邻抛光面收集发射。长磨砂面应背对检测系统。每个 SRM 的顶面都刻有自己的序列号，使用时应朝上。磨砂面可以与正面或落射荧光几何形状一起使用，或者抛光面可以与上述不同的几何形状一起使用，但是在这些情况下，认证值将成为参考值。表 1 和表 2 中的值在 25.0 °C ± 0.5 °C 下经过认证，激发带宽 (ΔλEX) 为 3.0 nm，发射带宽 (ΔλEM) 为 3.0 nm。